EUV光在產(chǎn)生和發(fā)射過程中不可避免的碎屑污染的問題,除了利用電場、磁場、氣體吹拂等有利措施改變碎屑運(yùn)動的方向,減少污染源進(jìn)入EUV光路外,采用對EUV光具有高透過率的薄膜元件實現(xiàn)對污染碎屑的阻擋和隔離是實現(xiàn)高分辨率圖案光刻的核心環(huán)節(jié)。新一代的EUV薄膜元件主要采用碳基材料,例如石墨烯薄膜和碳納米管(CNT)薄膜,相比于早期的晶體硅薄膜,碳基薄膜具有更高的EUV透過率,同時碳材料優(yōu)異的導(dǎo)熱性和機(jī)械穩(wěn)定性,使得這類薄膜材料能夠滿足EUV光刻過程中的碎屑污染防護(hù)。
目前我司可以提供高質(zhì)量的極紫外碳納米管(CNT)保護(hù)膜,以用于極紫外、X射線相關(guān)的基礎(chǔ)研究。

圖1 極紫外碳納米管(CNT)保護(hù)膜含支架示意圖
主要參數(shù):
保護(hù)膜尺寸:25mm/14.7mm直徑
釋氣材料:無
13.5nm透過率>75%
13.5nm透過率均勻性:+/1 %
粒子防護(hù)能力:>90%
眾星聯(lián)恒是EUV-X射線核心部件及解決方案供應(yīng)商,除了極紫外碳納米管(CNT)保護(hù)膜以外,我們還可以提供其他各類的極紫外、X射線濾片,如果自支撐金屬濾膜,多層膜反射濾片等詳情如下:

圖2 各類EUV、X射線濾片(部分有現(xiàn)貨)
資料/文獻(xiàn)