丹佛集結令·X射線科學前沿研討會-DENVER X-RAY CONFERENCE
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2024
會議介紹
丹佛 X 射線會議 (DXC) 從最初在丹佛大學校園內(nèi)只有 35 名與會者，到如今成為國內(nèi)外公認的年度盛會，DXC 作為包含 X 射線熒光和衍射在內(nèi)的一般 X 射線分析領域領先的年度論壇，今年將迎來它的第 73 周年。
作為世界上最大的 X 射線會議，與會者可以參加有關 XRD 和 XRF 最新進展的會議。由專家主持，就 X 射線熒光和 X 射線衍射技術在材料研究中的許多實際應用提供培訓和教育，DXC 提供獨特的培訓、教育和應用課程，包括 X 射線分析的最新技術和未來發(fā)展。從 "成像新方法 "到 "世界的 TXRF"，從 "火星上的 X 射線 "到 "當前和下一代同步加速器的成像"，從 "X 射線防護 "到 "礦物與寶石"，DXC 對于研討領域的涵括不一而足。?
本次DXC安排了自?2024年8月5日?至?9日?，為期共?5天?的會議日程。
眾星聯(lián)恒重要的合作伙伴：來自美國的X射線分析儀器公司 XOS，來自于美國的 Tibidabo Sientific (德國科研級CCD相機制造商 greateyes GmbH 母公司)，還有來自加拿大的創(chuàng)新X射線成像技術解決方案提供商KA Imaging，將作為展商參加本次會議，展現(xiàn)他們在X射線領域的最新成果與技術實力。
2024
合作展商介紹
XOS
在科學研究、半導體和電池制造、制藥和其他行業(yè)，XOS 是元素分析領域的全球領導者，其提供的解決方案有助于推動創(chuàng)新、確保合規(guī)性并提高客戶效率。XOS 先進的光學元件和 OEM 子系統(tǒng)可以提高精度、速度和空間分辨率，同時有助于減小儀器的尺寸、復雜性和成本。專家們選擇 XOS 的應用領域非常廣泛，包括微量分析、電鍍測厚、法醫(yī)和高分辨率元素繪圖。
KAimaging
BrilianSeTM ?X 射線探測器采用 8 um 像素，具有高空間分辨率和高探測量子效率 (DOE) 的獨特組合，能量最高可達 120 kev。這種組合可在低通量和高能量條件下實現(xiàn)高效成像，還能增強基于傳播（無光柵）的相位對比度，從而提高低密度材料成像時的靈敏度。
InCiteTM ?3D X 射線顯微鏡具有相位對比成像和微型 CT 功能，是首個采用 BrillianSe TM 技術的商用 X 射線 CT 系統(tǒng)。
Tibidabo Sientific
Tibidabo Sientific是科學和醫(yī)學研究、生命科學、農(nóng)業(yè)、回收利用、航空航天、國防和安全以及工業(yè)市場等領域先進技術的全球領導者。其旗下的 greateyes 公司成立于2008年，以德國柏林洪堡大學的技術為基礎，迅速發(fā)展成為國際知名的先進探測器生產(chǎn)企業(yè)。其科研與工業(yè)客戶群體己遍布多個國家。greateyes開發(fā)、 生產(chǎn)并銷售高性能科學級CCD相機。其作為精確探測器，廣泛應用于成像與譜學應用領域。同時greateyes公司也生產(chǎn)用于太陽能產(chǎn)業(yè)的電致熒光與光致熒光檢測系統(tǒng)。
2024
會議議程
PART A.?研討會
Monday AM workshops?
?9：00 a.m. – 12：00 p.m.?
Introduction to Machine Learning for X-ray Analysis - Part 1
Sample Preparation for XRD
Non-ambient XRD
Basic XRF
Monday AM workshops?
?1：30 p.m. – 4：30 p.m.?
Introduction to Machine Learning for X-ray Analysis?- Part 2
Practical Microcomputed Tomography
XRF of Layered Structure
Quantitative XRF
Tuesday AM workshops?
?9：00 a.m. – 12：00 p.m.?
Machine Learning and Autonomous for X-ray Diffraction: An "Unconference" - Part 1
X-ray Sources and Optics
Sample Preparation for XRF
Micro XRF
Tuesday PM workshops?
?1：30 p.m. – 4：30 p.m.?
Machine Learning and Autonomous for X-ray Diffraction: An "Unconference" - Part 2
Stress Analysis
2D Detectors
XRF Trace Analysis
PART B.?海報發(fā)表
Poster Sessions?
5：30 p.m. – 7：00 p.m.
Monday XRD Poster Session
Tuesday XRF Poster Session
PART C. 口述報告
Wednesday AM Session?
Plenary Session: Bio-Medical lmaging
Wednesday PM?Session?
New Developments in XRD &XRF Instrumentation
Stress and Texture Analysis
Rietveld and PDF Applications
Quantitative Analysis of XRF
Thursday AM Session?
Mining, Recycling, and Sustainable Materials
General XRD-Part 1
Cultural Heritage
Trace Analysis
Micro XRF and Synchrotron Applications
Thursday PM Session?
Bio-Medical
General XRD-Part 2
Non-ambient Measurements
General XRF
Friday AM Session?
Machine Learning Techniques in X-ray Analysis
Energy Materials Characterization
Industrial Applications of XRD
Industrial Applications of XRF
誠邀各位老師關注丹佛X射線會議(DXC 2024)，丹佛即將迎來X射線領域的思維碰撞和學術盛宴。若老師們對X射線領域的最新研究、技術進展感興趣，歡迎隨時聯(lián)系我們或訪問官網(wǎng)（https://www.dxcicdd.com/）以獲得更多訊息。
攜手志同道合者，揭開科學新篇章。期待您的足跡，共繪科研新圖譜！
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