眾星聚焦-荷蘭 Twente XUV 光學(xué)組博士深造機(jī)會(huì)
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盡管全球科技格局面臨諸多不確定性，未來(lái)的世界也許是割裂的，但是尖端技術(shù)的火種、及人類對(duì)于未知奇妙世界秩序的探索始終會(huì)在文明長(zhǎng)河中奔涌不息。 X 射線及極紫外（EUV）技術(shù)作為突破物理極限的關(guān)鍵領(lǐng)域，正在推動(dòng)基礎(chǔ)科學(xué)、半導(dǎo)體、精密檢測(cè)等行業(yè)的深刻變革。
作為深耕 X 射線及極紫外（EUV）核心部件領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)商和解決方案的探索者，眾星聯(lián)恒始終以"技術(shù)瞭望者"的視角，捕捉全球最新的 X 射線&EUV領(lǐng)域就業(yè)、深造機(jī)會(huì)。
博士職位：
基于混合X射線計(jì)量學(xué)的多層結(jié)構(gòu)生長(zhǎng)優(yōu)化研究
在特文特大學(xué) (University of Twente) XUV 研究組，我們正在尋找一位聰明、充滿熱情的博士生加入我們的團(tuán)隊(duì)！
目前的研究重點(diǎn)在于結(jié)合基于X射線的計(jì)量技術(shù)（X射線衍射/XRD、X射線反射/XRR、X射線熒光/XRF），開發(fā)一套原位X射線計(jì)量平臺(tái)，能夠精確表征納米級(jí)多層反射鏡內(nèi)部的光學(xué)對(duì)比度和界面特性。
「APPLY NOW」
? 我們誠(chéng)邀一位積極主動(dòng)的博士候選人加入，助力以下尖端領(lǐng)域的開發(fā)工作：
Develop and refine a hybrid metrology technique, based on an X-ray metrology platform, in order to achieve precise characterization of a multilayer structure, including their interfaces.
Separately quantify interface morphology(roughness) and interdiffusion zones, analyze interface compound formation, and evaluate the effect of barrier layers on the formed structure and interfaces.
Design multilayer structures tailored for specific analyses.
Guide the process of fabrication of these structures and characterize them with X-ray reflectometry, and other surface science techniques.
Demonstrate the correlation between the structural properties of multilayers and their performance at various wavelengths.
理想背景：
物理學(xué)（或相關(guān)領(lǐng)域）碩士學(xué)位，具備薄膜沉積或薄膜計(jì)量學(xué)的初步經(jīng)驗(yàn)，具備扎實(shí)的科研技能，并熟練使用 Matlab 或 Python 進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
KEY TAKEAWAYS
SALARY INDICATION: € 2,901 - € 3,707
WORKING HOURS: 38 - 40 hr
DEADLINE: 15 Sep 2025
完整職位詳情與申請(qǐng)入口：
https://lnkd.in/eP6qzgYe
TOP-UNISTAR
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