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XAFS光譜數(shù)據(jù)解析

XAFS光譜數(shù)據(jù)解析

2025-02-12 09:49:31 TU
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XAFS光譜數(shù)據(jù)解析

 

1.全套分析(XANES EXAFS WT

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜(XAFS)可以分為三個部分,邊前區(qū)(Pre-edge)、近邊區(qū)(XANES)和擴展邊(EXAFS)。

1XANES可以得到吸收原子的電子結(jié)構(gòu),包括價態(tài),對稱性,軌道占據(jù)等信息;

2EXAFS可以得到吸收原子周圍配位信息,包括配位原子種類鍵長,配位數(shù),無序度等信息;

3)小波變換可以得到區(qū)分出配位原子的距離(即鍵長),和配位原子的種類。


北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

Sci. China Chem. 66, 783–790 (2023).

 

2. 特征分析

2.1 近邊擬合

產(chǎn)品說明:可以獲得測試樣品的具體價態(tài)

2.2 局域配位環(huán)境擬合

產(chǎn)品說明:通過對傅里葉變換,當材料中吸收原子周圍存在鄰近原子時,會在R空間光譜呈現(xiàn)出一種或多種路徑結(jié)構(gòu),通過路徑擬合分析可以獲得吸收原子的局域配位環(huán)境,包括配位原子種類、配位數(shù)、鍵長及無序度等信息。


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