工程師 Jesse 正在進行培訓

“對于相干衍射成像（CDI），微米級像素的非晶硒 CMOS 探測器—BrillianSe? 將專門解決大體積晶體材料中納米級晶格畸變在能量高于 50 keV 的高分辨率成像。目前可用的像素相對較大的（?55μm 像素），基于 medipix3 芯片光子計數(shù)、像素化、直接探測技術(shù)無法輕易支持高能布拉格條紋的分辨率，從而使衍射數(shù)據(jù)不適用于小晶體的 3D 重建。” 美國阿貢國家實驗室先進物理光子源探測器物理小組負責人 Antonino Miceli 博士講到。

相干 X 射線衍射成像作為新興的高分辨顯微成像方法，擺脫了由成像元件所帶來的對成像分辨率的限制，其成像分辨率理論上僅受限于 X 射線的波長。利用第三代同步輻射光源或 X 射線自由電子激光，可實現(xiàn)樣品高空間分辨率、高襯度、原位、定量的二維或三維成像，該技術(shù)在材料學、生物學及物理學等領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用前景。作為一種無透鏡高分辨、無損成像技術(shù)，CDI 對探測器提出了較高的要求：需要探測器有單光子靈敏度、高的探測效率和高的動態(tài)范圍。目前基于軟 X 射線的相干衍射成像研究工作開展得比較多，在這種情況下科研工作者通常選用是的基于全幀芯片的軟 X 射線直接探測相機。將 CDI 技術(shù)拓展到硬 X 射線領(lǐng)域（>50keV）以獲得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在嘗試的，同時也對探測器和同步輻射光源提出了更好的要求。而這次交付的非晶硒、高分辨 X 射線探測器（BrillianSe?）能很好的解決的這一問題。

關(guān)于 BrillianSe 更多介紹詳見之前的推文：“跨向理想 X 射線探測器的一小步-高分辨、非晶硒 X 射線探測器及其應(yīng)用”

與此同時，加拿大 KA Imaging 公司的技術(shù)總監(jiān)于2021年在 Journal of Synchrotron Radiation 發(fā)表了一篇名為“High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector”的文章，詳細地介紹了 BrillianSe 的性能及特點。鏈接如下：

https://journals.iucr.org/s/issues/2021/04/00/gy5022/index.html

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為加拿大KA Imaging公司中國區(qū)獨家授權(quán)代理商，全面負責BrillianSe?及inCiTe?在中國市場的產(chǎn)品售前咨詢，銷售以及售后業(yè)務(wù)。我司始終致力于為廣大科研用戶提供專業(yè)的EUV、X射線產(chǎn)品及解決方案。如果您有任何問題，歡迎聯(lián)系我們進行交流和探討。

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