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企業(yè)新聞

  • 高對(duì)比度高損傷閾值XUV/可見光二向色鏡

    摘要：日本NTT-AT公司研制了一種用于高次諧波光與泵浦光分離和組合的高對(duì)比度XUV/可見光二向色鏡。這種掠入射的AR涂層的二向色鏡在極紫外波段的P偏振反射率大于40%，同時(shí)在800nmNIR的反射率小于1%。這種二向色鏡的對(duì)比度與傳統(tǒng)方法如金屬薄膜濾光片和基于布魯斯特角的分束器相當(dāng)，且它的損傷閾值原則上高于其他方法。這種易于定制的光學(xué)元件將適用于VUV和軟X射線波段的高次諧波光源。 高次諧波（H

    2021-04-01

  • 眾星聯(lián)恒與德國SIRIUS正式簽署代理協(xié)議，向中國客戶提供靈活的X射線衍射解決方案

    眾星聯(lián)恒與德國SIRIUS正式簽署代理協(xié)議，向中國客戶提供靈活的X射線衍射解決方案本著為國內(nèi)客戶提供高端的X射線/SXR/EUV產(chǎn)品及解決方案的想法，眾星聯(lián)恒再一次提高了我們的解決方案提供能力。經(jīng)過長期的調(diào)研及深刻的討論后，眾星聯(lián)恒與德國SIRIUS公司正式簽署了代理協(xié)議，成為了SIRIUS在中國區(qū)的授權(quán)代理。Sirius公司成立于2015年，是一家材料科學(xué)和半導(dǎo)體行業(yè)X射線分析解決方案的提供商。

    2021-02-23

  • 用于極紫外實(shí)驗(yàn)的多層膜鍍膜技術(shù)

    EUV多層膜是為像高次諧波應(yīng)用這樣的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和制作的。在本文中，我們將展示適用于8nm -50nm波段的 Ru/B4C 、 Mo/Si、 Zr/Al Si和 SiC/Mg 多層膜的最新成果。這些多層膜都容易根據(jù)實(shí)驗(yàn)的具體要求定制參數(shù)，包括入射角、峰值波長和帶寬。01引言不論是對(duì)基礎(chǔ)研究還是工業(yè)領(lǐng)域來說，EUV光源都是很強(qiáng)大的工具。高次諧波(HHG)和X射線自由電子激光(XFELs)被用于許多超快和

    2025-03-05

  • Advacam新品-Widepix 2(1)x10-MPX3探測器：雙讀出網(wǎng)口，170幀/s

    Widepix 2(1)x10-MPX3探測器由2x10/1x10的 Medipix3芯片組成。每個(gè)像素有兩個(gè)集成的12bit數(shù)字轉(zhuǎn)換器和兩個(gè)能量鑒別閾值，兩個(gè)轉(zhuǎn)換器可以連接到一個(gè)單一的24bit數(shù)字轉(zhuǎn)換器以增強(qiáng)動(dòng)態(tài)范圍。該探測器可以由Si或CdTe的無邊緣傳感器拼接組成。無邊緣傳感器技術(shù)允許從各個(gè)方向?qū)⑺械馁N片緊密的拼合在一起。因此，相機(jī)的整個(gè)成像區(qū)域?qū)椛涠纪耆舾小獔D像中的貼片之間沒有縫

    2020-12-14

  • 眾星聯(lián)恒自主品牌—桌面超快X射線診斷裝置FemtoX-II

    激光等離子體脈沖式超快X射線輻射源經(jīng)過近二十年的發(fā)展，已經(jīng)在眾多國際實(shí)驗(yàn)室具有較為廣泛的應(yīng)用，并展現(xiàn)出了超微、超亮、高信噪比和高穩(wěn)定性的特點(diǎn)。在物質(zhì)超快過程研究、精細(xì)分辨成像等方面具有重要的應(yīng)用價(jià)值，加上其裝置的低成本優(yōu)勢，已經(jīng)成為同步輻射光源在超快領(lǐng)域的有效補(bǔ)充。使用桌面飛秒激光器與特殊設(shè)計(jì)的靶室，我們將脈寬小于100飛秒（fs）的桌面超快X射線脈沖——FemtoX-II帶進(jìn)了中小型實(shí)驗(yàn)室。同時(shí)

    2020-12-01

  • NTT-AT X射線菲涅爾波帶片加工技術(shù)及在顯微成像技術(shù)中的應(yīng)用

    在X射線顯微成像研究領(lǐng)域中，隨著科研人員孜孜不倦的創(chuàng)新追求，以及各種成像方法的交叉和迭代，成像方法和手段被細(xì)分為了很多的子類。目前主流的X射線顯微成像方法主要有：全場透視顯微（TXM）、掃描透視顯微（STXM）、相干衍射成像（X-ray CDI）、X射線熒光顯微（XFM）、X射線光譜顯微（XSM）、X射線光電子（能譜）顯微（XPEEM）等。此外，基于這些方法論的交叉借鑒和拓展，結(jié)合同步輻射光源的高

    2020-10-09 unistar

  • 輝光放電質(zhì)譜技術(shù)交流會(huì)-10月12日下午4點(diǎn)-GDMS應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)

    GDMS應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)2020年10月12日16：00-18：00您了解過輝光放電質(zhì)譜法嗎？輝光放電質(zhì)譜法作為一種固體樣品的直接分析方法，被認(rèn)為是目前為止唯一的同時(shí)具有最廣泛的分析元素范圍和足夠靈敏度的元素分析方法，已成為固體材料多元素分析尤其是高純材料分析的強(qiáng)有力的工具，運(yùn)用于金屬、合金、半導(dǎo)體等多種材料的分析。眾星聯(lián)恒將邀請專家為您帶來一場輝光放電質(zhì)譜技術(shù)應(yīng)用及輝光放電質(zhì)譜儀器的分享會(huì)。202

    2020-10-09 Cavan

  • 國內(nèi)現(xiàn)貨—超高性價(jià)比教育版輻射粒子探測器MiniPIX EDU來咯！

    運(yùn)用了由CERN開發(fā)的、NASA在太空中使用過的X射線探測器技術(shù)，MiniPIX EDU是一款為以教育為用途而設(shè)計(jì)和定價(jià)的微型USB、光子計(jì)數(shù)X射線探測器。圖1MiniPIX EDUNASA在太空中使用的是標(biāo)準(zhǔn)版MiniPIX。此前標(biāo)準(zhǔn)版MiniPIX就已經(jīng)出現(xiàn)在歐洲的學(xué)校課堂上了，但通常教師和學(xué)生的需求對(duì)設(shè)備的要求沒有那么高，所以ADVACAM開發(fā)了教育版的MinIPIX,即MiniPIX ED

    2020-09-21 Cavan

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